高分辨率光纖光譜儀-型號HR-X-UV-StellarNet制造

超極限的高分辨率光譜儀，分辨率優于0.05nm

HR-X高分辨率光譜儀的結構

堅固耐用——可拆卸的光譜儀組件和控制電子設備在堅固的金屬外殼內進行保護，適用于便攜式，過程，實驗室和現場應用。

帶有預設校準和光譜儀設置的板載存儲器以及快照存儲器，可從2048的高靈敏度CCD提供瞬時光譜圖像。

HR-X高分辨率光譜儀的功能及主要特色：

-分辨率優于0.05nm！

-增加的光路提供了比普通HR高分辨率光譜儀高2倍的分辨率

-UV-VIS和NIR / WDM等不同波段選項

-單元可堆疊用于廣泛的分析

-在800nm以上的波段范圍提供超高分辨率

Stellarnet HR-X極限高分辨率光譜儀系列代表了stellarnet制造的分辨率水平，不同配置的超高分辨率光譜儀可以在紫外線，紫外可見光和近紅外光譜范圍內實現高分辨率。與標準的HR系列高分辨率光譜儀和BLUE-Wave系列型號光譜儀相比，stellarnet的HR-X機箱具有2倍和4倍分辨率的光路，把潛在的光分辨能力提高到原來的2倍到4倍。

基于基本的物理學原理，HR-X光纖光譜儀分辨率的提高是以減小可測量的波長范圍和增加光譜儀的物理尺寸為代價的。但這種設計一旦定型，HR-X Hi Res光譜儀就提供了分辨率，并且具有沒有移動部件的任何模塊化的優點。

stellarnet高分辨率光纖光譜儀可以監控和表征激光波長和其它各種光源的光譜，具體應用包括測量可調諧激光器和LED，還包括等離子體，LIBS的元素發射或其他高功率光發射。此外，通過結合布拉格光柵技術，HR-X高分辨率光譜儀還可以實現對溫度，壓力和位置進行光學檢測。

stellarnet HR-X型號規格參數（選型指南）：

下表是HR-X高分辨率光纖光譜儀的不同配置，即搭配不同狹縫和光柵時的性能參數。

1.主要選擇自己要檢測的波長范圍。例如，我需要檢測的波長是300-700，那我所選擇的規格必須包括300-700這段波長，

2.狹縫范圍越小，分辨率越高。狹縫范圍越大，分辨率越低，狹縫的選擇要根據自身實際的需求進行選擇。具體請咨詢我們。

stellarnet HR-X高分辨率光譜儀技術指標：